6月1日上午，由美國Oblon,Spivak事務所和北京集佳知識產權代理有限公司舉辦的知識產權訴訟發(fā)展趨勢研討會在北京飯店萊佛士寶石大廳如期舉行，本次研討會吸引了機械、電子、通信等領域60余位企業(yè)知識產權負責人參加。

此次研討會旨在為中國企業(yè)提供近距離了解美國知識產權訴訟制度及程序的良好機會，并通過與專業(yè)律師的深入溝通，了解適合企業(yè)的知識產權訴訟策略及對策。

在此次研討會上，美國Oblon,Spivak事務所和集佳的專家就美國專利糾紛、美國訴訟中的“Discovery”程序、ITC訴訟、中國專利訴訟以及美國專利商標局的復審問題做了詳盡的講演。前美國專利商標局副局長斯蒂芬?庫寧先生介紹了如何戰(zhàn)略性地運用復審程序，并且重點介紹了當前的發(fā)展趨勢。集佳合伙人、副所長李德山博士就中國專利的發(fā)展趨勢以及涉及專利侵權判定，證據和賠償方面的相關規(guī)則和實踐運用進行了詳細評析。

隨著中國企業(yè)在國際市場的發(fā)展，近年來中國企業(yè)頻頻與ITC（美國國際貿易委員會）“過招”，這也引起了中國企業(yè)的重視。在此次研討會上，美國Oblon,Spivak的合伙人托馬斯?費希爾先生和巴里?赫爾曼先生闡述了從ITC案開始到結束的整個過程，并且提供了在ITC訴訟中的統(tǒng)計數(shù)字等實踐信息。

在茶歇時間，與會代表們紛紛針對自己關注的問題向嘉賓提問，尋求有效的解答方案，在會議結束后的雞尾酒會，為廣大中國企業(yè)提供了與演講嘉賓近距離溝通和交流的機會，通過與專家們的深入探討，大家普遍感覺從中受益良多。

本次研討會也得到了行業(yè)媒體的關注，《China IP》、《人民網》知識產權頻道等媒體參加了會議，并針對會議做了相關報道。此次研討會結束北京的日程后，于6月3日在上海召開。